可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 80F-2P

可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 80F-2P

用途:

該設備主要是測試產品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗,主要用于對電工、電子產品、元器件、零部件、金屬材料及其在模擬高溫、低溫時溫度瞬間變化的氣候條件下的適應性試驗,對產品的物理以及其它相關性能進行測試:

1.在研制階段用以暴露試制產品各方面的缺陷,評價產品可靠性達到預定指標的情況;

2.生產階段為監(jiān)控生產過程提供信息;

3.對定型產品進行可靠性鑒定或驗收;

4.暴露和分析產品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及有關的失效模式和失效機理;

5.為改進產品可靠性,制定和改進可靠性試驗方案,為用戶選用產品提供依據(jù)。

可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 80F-2P

樣品陽層架對試驗物的承重量: 2. 5kg以內，如有澀重的測試物訪卜單時注明。

出溫上升時舊約!: 40uin

低溫卜降時舊約!: 80uin

品溫些溫變zu1島可儲子至: 60C 200C

低溫雪溫變zui低丁伴存至: 70C“ 10C 

溫變移動沖木時日仁: 10秒鐘內

溫變沖十實復穩(wěn)定時但在: 3 5分鐘內

此設備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品*靜止。采用*之蓄熱、蓄冷結構,

強制冷熱風路切換方式導入測試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測試。